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半導體、FPD、光學薄膜行業在線嵌入式厚度測量解決方案

本次學習會介紹我司膜厚設備在半導體各工序的測量方案。從成膜工藝~晶圓研磨過程監控，大氣、真空等復雜環境條件下的嵌入式在線厚度測量。對CMP、BG研磨過程監控、OLED成膜工藝在線測量感興趣的各界人士，請一定收看！

對于半導體前工序的多種需求-大塚膜厚儀的特點和作用

本次研討會介紹我司膜厚儀產品在半導體前工序，從裸晶片到配線工序的特點及應用。研討會內容涉及半導體制造工序、晶圓厚度和氧化膜膜厚測量技術等。

光波動場三次元顯微鏡的介紹

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

偏光片相位差·吸收軸測試原理及應用案例-蘇州線上講習會（2024-5-22）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

納米粒度和ZETA電位設備在生物醫藥行業的應用(2024-04-24 )

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膜厚度測量(反射分光)的原理和應用介紹-2024-2-28

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RETS測試原理&應用-蘇州線上講習會（2023-12-6）

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平板ZETA電位測量-蘇州線上講習會（2023-11-22）

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9月 WEBINAR(網絡研討會)-大塚電子網絡研討會-膜厚測量應用

9月 Webinar(網絡研討會)-大塚電子網絡研討會-粒徑應用篇

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

Inline分光計測儀器 -為提升品質做出貢獻

平板顯示器、包裝用薄膜、光學薄膜等領域出現了各種各樣的產品，特別是在這些產品中，光學特性成為最重要的特性之一.推薦大塚電子-Inline分光計測儀器。...

大塚電子（蘇州）有限公司將于2022年9月7-9日參與CIOE中國光博會

大塚電子（蘇州）有限公司將參加2022年CIOE中國光博會，展出位置：13號館13E21，將展出的產品有：OPTM 顯微分光膜厚儀、ELSZ 粒徑、界達電位測試儀、MCPD，歡迎您前來免費參觀。...

卷對卷(Roll to Roll)高速在線膜厚監控

在各種高分子領域中，卷對卷的膜層涂布是其中一段生產過程，在監控膜厚時為了保持商品的完整性，無法以接觸式方法量測。...

大塚電子即將亮相深圳國際納米材料及技術展覽會

展期：2021年9月9~11日展館：深圳國際會展中心（新館）地址：深圳市寶安區展城路1號展位號：8號館8A01C（3號門）納米材料行業解決方案納米材料包括：納米碳納米材料（石墨烯、富...

Otsuka 大塚電子攜最新實驗室測量設備亮相ICIF China 2020中國國際化工展覽會

9月16日到9月18日大塚電子（蘇州）有限公司攜其最新粒度儀設備nanoSAQLA、ZETA電位核心技術產品ELSZ-200ZS及量子效率測試系統亮相ICIF China 2020中國國際化工展覽會作為粒度儀行業的知名領先...

大塚電子與您相約第22屆高交會！

大塚電子（蘇州）有限公司誠邀您蒞臨展位參觀、洽談展位號：3號館-3D11 2020.11.11-15 深圳會展中心(福田)...

大塚電子參加第十七屆上海國際膠粘帶保護膜及功能膜展覽會

大塚電子參加第十七屆上海國際膠粘帶保護膜及功能膜展覽會...

【大塚電子新產品】線掃描膜厚儀實現薄膜的線掃描膜厚測量

近年來工作方式改革和新型冠狀病毒感染癥（COVID-19）使得外出受到限制，居家辦公、電話辦公、Web會議普及等，工作方式發生了很大的變化。筆記本電腦、平板電腦為代表的顯示器件成...

大塚電子參加第二十二屆中國國際高新技術成果交易會

大塚電子(蘇州)有限公司誠邀您蒞臨展位參觀、洽談展位號:3號館-3D11 2020.11.11-15 深圳會展中心(福田)...

Webinar 【粒徑與ZETA電位的測量原理和應用介紹】

利用光技術開發出各種分析測量裝置的大塚電子，給客戶提供尖端測量技術支持。以測量技術、應用示例等重點介紹為主，舉辦Webinar.邀請你的參加，并參與一起討論。

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