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MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。

1.VR pancake模組的偏光片貼合角、相 位差測(cè)量 2.LCoS液晶盒盒厚檢測(cè) 3.Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評(píng)估 4.透光多層材料中的異物檢測(cè) 5.和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

研磨液、半導(dǎo)體研磨工序、CMP及BG設(shè)備商， 臨時(shí)鍵合及蝕刻工序、半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)、相關(guān)大學(xué)及研究機(jī)構(gòu)。

無(wú)法測(cè)出正確的反射率、測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)大、解析條件如何設(shè)置？擬合度差,nk怎么解析？ 是對(duì)焦位置不正確？是鏡頭選用不正確？還是測(cè)試條件&解析條件設(shè)置有誤？ 如果您也有同樣的測(cè)試?yán)Щ螅?qǐng)一定參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。

2025/10/23 15:00~16:00，蘇州線上講習(xí)會(huì)，由日本粒徑測(cè)量專家講解的DLS測(cè)量方法技巧介紹，DLS測(cè)量和分析原理、樣品制備的注意點(diǎn)、測(cè)量·解析時(shí)的故障排除說(shuō)明。

大塚電子誠(chéng)邀您共赴半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件及材料展盛會(huì)——第十三屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件及材料展（CSEAC 2025。2025年9月4日-6日，我們將在無(wú)錫太湖國(guó)際博覽中心2F A6-625展位恭候您的蒞臨！

偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客戶，以及對(duì)偏光、相位差測(cè)量技術(shù)感興趣的各界賓客。

測(cè)量案例：電池行業(yè)（炭黑、碳納米管等）、半導(dǎo)體行業(yè)（晶圓、CMP漿料等）、生物·醫(yī)藥（凝膠粒子、納米金粒子等）、食品化妝品行業(yè)（氧化鈦等）。

應(yīng)用領(lǐng)域：光學(xué)膜、接著劑、硬化涂層、半導(dǎo)體光刻膠、食品用薄膜、醫(yī)療用薄膜等。

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率 的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。

大塚電子MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。

大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測(cè)量、LCoS液晶盒盒厚檢測(cè)Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評(píng)估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測(cè)量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。

大塚電子的 Zeta 電位測(cè)量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測(cè)量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測(cè)量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過(guò)這樣的測(cè)量可以評(píng)價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會(huì)將介紹其應(yīng)用。

無(wú)法測(cè)試出預(yù)想的結(jié)果，測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對(duì)？ 還是測(cè)試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請(qǐng)記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測(cè)厚儀,非接觸薄膜測(cè)厚儀,濕膜測(cè)厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測(cè)定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測(cè)定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...

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