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【FE-0015】使用界面系數測量粗糙基板上的薄膜厚度
【FE-0014】使用多點相同分析法測量NK未知超薄膜
【FE-0012】使用薄膜厚度分布進行解析
【FE-0010】使用非相干層模型對封裝的有機EL材料進行測量
【FE-0009】 使用超晶格模型測量干擾濾波器
【FE-0007】包含表面粗糙度的薄膜厚度值的測量
【FE-0005】 使用傾斜模型對ITO進行結構分析
【FE-0004】測量硬涂層的厚度
【FE-0003】彩色抗蝕劑（RGB）薄膜厚度測量
【FE-0002】SIO2 SIN的膜厚測量
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